Sistema completo para Microscopia de Fuerza Atómica para muestras de pequeño y mediano tamaño, incluyendo: dos escáneres independientes y desacoplados para XY y Z con sistema de barrido guiado-flexible, control de lazo abierto/cerrado para los tres ejes, curvatura de fondo cero en el XY escáner, cabezal AFM XE, ´óptica directa en el eje Z, cámara CCD de alta resolución con zoom digital, enfoque manual en Z, platina Z motorizada, platina manual XY de precisión, controladora electrónica XE, ordenador, software y accesorios.